CIE （国际照明委员会）第二届测量不确定度研 讨会于 2006 年 6 月 11 日 到 6 月 17 日 在德国 PTB （德国物理技术研究所，德国国家法定计量测试机构）所在地 Braunschweig 举行， 105 名参会代表主要来自欧美地区，其中近半数来自德国，亚洲代表主要来自日本，我国仅有杭州远方光电信息有限公司技术总监潘建根先生一名代表参会。
会议主题是光度和颜色（光谱辐射）测量中的不确定度的研究。 ISO 于 1993 年首次推出了测量不确定度导则（ GUM ）后，受到各国的普遍重视和采用， 1995 年 ISO 又推出了修订版本，但要深入分析测量过程各种不确定因素，从而最终科学准确地得出不确定度的大小，是一件极其具有挑战性的工作，由于科技工作者近年来对不确定度的研究的深入， ISO 将在近期再次推出修订版。对于光和辐射测量而言，当测量的几何条件较为复杂，温度和其他环境因素影响较为敏感，光谱之间又具有相关性时，不确定度的分析确定是一件令各国专家感到棘手的难题，而这对较高水准的计量测试来讲又极其重要。
本次会议有十五名专家应邀向大会作学术报告，其中十三名专家来自欧美，杭州远方公司技术总监 潘建根 先生应邀向大会作有关 LED 测量不确定度的学术报告，报告受到了热烈讨论和好评，美国 NIST 的代表当场表示祝贺，并表示中国在 LED 测量方面的研究已相当深入。 LED 测量不确定度的研究是当前极具挑战性的领域，是当前国际社会普遍关注的一个焦点。
本次 CIE 专家会议取得了较为丰硕的成果， CIE 将另行专门出版收录本次会议主要论文的论文集，并且，在不远的将来出版一份专门关于光度测量不确定度评价和表述方法的技术文件。
不确定度会议结束后， CIE D2 （第二分部）举行了年会和技术委员会研讨会，会上讨论了明年在北京举行的 CIE 第 26 届大会，各国代表均表示要尽量参加北京大会。会议其间德国 PTB 十分热情好客，他们以极其宽阔的胸怀，向各国代表展示了他们新建的实验室，在德国 PTB 新建的光辐射测量实验室中，绝大部分测量设备是世界仅有的，参观代表中英、美、法、日等国的国家实验室光辐射测量技术负责人全部到齐，这支世界最一流的专家队伍，无不为这一世界最一流的实验室赞叹，这次德国 PTB 还破例，每位代表可随意照相，大家都留下了很多极其珍贵的资料。这不仅体现了德国 PTB 的大度，也更体现了德国 PTB 的自信，从他们的行动和实力中让人感到德国 PTB 是难以被克隆的。
会议期间中国代表还与德国 PTB 和美国 NIST 有关负责人探讨了我国光辐射测量方面的学者到对方实验室短期工作的可能性，德国 PTB 和美国 NIST 均欢迎 潘建根 先生推荐有关具备条件的优秀人才。
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